台湾台北市で開催されましたThe Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnologyにて下記題目にて研究発表しました．会議のあとは見学会が開催され半導体基板検査装置のリーディングカンパニーである Chroma ATE 社を見学させていただきました．
The Ambient Temperature Monitoring Around Grinding Area for In-Process Control System
By Using Thermopile Array Sensors
K. YANAGIHARA
渡航にあたっては（公財）三豊科学技術振興協会様より助成いただきました．ありがとうございました．
